点击图片查看原图
“粒度仪（WQL）”参数说明
| 型号： | WQL |
“粒度仪（WQL）”详细介绍
用途：
该仪器基于固体颗粒的离心沉降和光透射原理测定颗粒的粒度大小反分布，典型的测试样品有：金属粉末、非金属矿物（如高苓土、滑石娄、云母粉、金刚砂等）、金属氧化物（Tio2,Mgo,Al2o3,ZnO等）、催化剂、含能材料、医药、食品、高分子乳液、陶瓷材料等，它在粉末行业的基础研究、产品研制、质量控制和工程分析中得到越来广泛的应用。
特点：
1、1次测量的粒度范围比宽：采用变速测定方式，使1次测量的粒度范围比大于20:1。
2、测量的最小粒度下限比国内同类产品要小。
3、有频闪观察装置，可观察样品的颗粒的沉降情况。
4、操作简单：采用中文菜单提示，可灵活地选择各种处理功能测定参数，测量结果，图谱均可显示和打印。
5、功能强的数据及管理系统：可智能判断测定参数选择是否合适，可给出分级合理，内容丰富，规范化的粒度测量报告，定量化的粒度分布图。数据处理系统的通用性：该系统的PC计算机以及彩显，24针打印机，可随时开放，用于办公室自动化。
主要技术参数：
1、转速范围：600-10000r/min
2、光信号稳定性：0.2%/30min
3、可测粒度范围：0.01-60
4、测试准确度（D50）：±10%（用上海测试技术研究所提供的二氧化硅标样）。
该仪器基于固体颗粒的离心沉降和光透射原理测定颗粒的粒度大小反分布，典型的测试样品有：金属粉末、非金属矿物（如高苓土、滑石娄、云母粉、金刚砂等）、金属氧化物（Tio2,Mgo,Al2o3,ZnO等）、催化剂、含能材料、医药、食品、高分子乳液、陶瓷材料等，它在粉末行业的基础研究、产品研制、质量控制和工程分析中得到越来广泛的应用。
特点：
1、1次测量的粒度范围比宽：采用变速测定方式，使1次测量的粒度范围比大于20:1。
2、测量的最小粒度下限比国内同类产品要小。
3、有频闪观察装置，可观察样品的颗粒的沉降情况。
4、操作简单：采用中文菜单提示，可灵活地选择各种处理功能测定参数，测量结果，图谱均可显示和打印。
5、功能强的数据及管理系统：可智能判断测定参数选择是否合适，可给出分级合理，内容丰富，规范化的粒度测量报告，定量化的粒度分布图。数据处理系统的通用性：该系统的PC计算机以及彩显，24针打印机，可随时开放，用于办公室自动化。
主要技术参数：
1、转速范围：600-10000r/min
2、光信号稳定性：0.2%/30min
3、可测粒度范围：0.01-60
4、测试准确度（D50）：±10%（用上海测试技术研究所提供的二氧化硅标样）。